Invention Publication
- Patent Title: 表面缺陷检测方法、装置、系统、存储介质及计算机设备
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Application No.: CN202311370398.3Application Date: 2023-10-20
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Publication No.: CN117388261APublication Date: 2024-01-12
- Inventor: 姜星旭 , 高崇 , 马科 , 杨升 , 黄鑫 , 李欣 , 刘贞山 , 赵丕植
- Applicant: 中铝材料应用研究院有限公司 , 中铝河南洛阳铝加工有限公司
- Applicant Address: 北京市昌平区未来科学城南区
- Assignee: 中铝材料应用研究院有限公司,中铝河南洛阳铝加工有限公司
- Current Assignee: 中铝材料应用研究院有限公司,中铝河南洛阳铝加工有限公司
- Current Assignee Address: 北京市昌平区未来科学城南区
- Agency: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- Agent 褚敏
- Main IPC: G01N21/88
- IPC: G01N21/88 ; G01J3/46 ; G01N21/25 ; G01B11/28 ; G06T7/00 ; G06T7/62 ; G06V10/28 ; G06V10/764
Abstract:
本发明公开了一种表面缺陷检测方法、装置、系统、存储介质及计算机设备。其中，该方法包括：获取铝材料的待测表面对应的图像，其中，图像中的原始像素点与待测表面对应；根据图像，确定原始像素点的像素值；根据原始像素点的像素值，确定待测表面中的异色区域的面积占比；根据面积占比，确定铝材料的待测表面的异色缺陷状态。本发明解决了依赖人工目检确定铝材料表面是否存在异色缺陷费时费力且检测结果不准确的技术问题。
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