Invention Grant
- Patent Title: 一种超声波检测方法及装置
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Application No.: CN202311695066.2Application Date: 2023-12-12
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Publication No.: CN117388373BPublication Date: 2024-02-27
- Inventor: 陈耀武 , 卢坤
- Applicant: 深圳精创视觉科技有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市龙华区龙华街道和平东路港之龙科技园科技孵化中心6楼E、I区
- Assignee: 深圳精创视觉科技有限公司
- Current Assignee: 深圳精创视觉科技有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市龙华区龙华街道和平东路港之龙科技园科技孵化中心6楼E、I区
- Main IPC: G01N29/06
- IPC: G01N29/06 ; G01N29/04

Abstract:
本申请超声波缺陷检测方法,包括:控制系统获取配置参数,进行内核初始化。选择初始产品配方,对选取的无缺陷样品定位扫描,调节初始产品配方至扫描出来的图像纹理清晰时获得匹配产品配方,对无缺陷样品的无缺陷区域图像制作检测模板。使用匹配产品配方对待测产品扫描采样,根据待测产品的厚度设置采样时间延迟量T和长度L,对每个点位采集数据进行分段,对于不同材料层的待测产品,根据超声波在不同材料中的传播速度,计算不同材料层相对应的时间延迟量Tn和长度Ln,将整体采样数据分成n个切片特征层,选择采集模式进行取样,灰度转换,匹配检测模板,识别出缺陷。对不同厚度和材质的产品灵活调整产品配方,高效、准确的实现产品的内部检测。
Public/Granted literature
- CN117388373A 一种超声波缺陷检测方法及装置 Public/Granted day:2024-01-12
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