本发明提出一种用于测量KDP晶体结构应力分布的装置和方法。本发明装置包括：激光器，凸透镜，第一线偏振片，待测晶体样品，垂直升降台，水平位移台，第二线偏振片，CCD图像传感器，光屏，计算机；激光器，凸透镜，第一线偏振片，待测晶体样品，第二线偏振片，光屏按光路依次设置；待测晶体样品放置于垂直升降台上，垂直升降台放置于水平位移台上；待测晶体样品为Z切双面抛光的KDP晶体；CCD图像传感器和计算机相连。本发明装置和方法是用于测量Z切KDP晶体结构的应力分布，简单，成本低，对样品质量、尺寸、形状无要求，适应性广，能够快速有效、准确、定量的测量晶体内部的结构应力以及结构应力分布。