发明公开
- 专利标题: 一种芯片外观检测装置和芯片外观检测设备
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申请号: CN202311541710.0申请日: 2023-11-17
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公开(公告)号: CN117538258A公开(公告)日: 2024-02-09
- 发明人: 邹巍 , 庄彤 , 欧阳衡 , 钟建平 , 刘兵生 , 王志威
- 申请人: 广州诺顶智能科技有限公司 , 广州天极电子科技股份有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市番禺区石楼镇珠江路79号A幢自编201
- 专利权人: 广州诺顶智能科技有限公司,广州天极电子科技股份有限公司
- 当前专利权人: 广州诺顶智能科技有限公司,广州天极电子科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省广州市番禺区石楼镇珠江路79号A幢自编201
- 代理机构: 广州骏思知识产权代理有限公司
- 代理商 潘桂生
- 主分类号: G01N21/01
- IPC分类号: G01N21/01 ; G01N21/95
摘要:
本发明提供一种芯片外观检测装置及设备,芯片外观检测装置包括底座、旋转吸嘴机构、图像获取机构和规整机构;旋转吸嘴结构包括旋转支架和用于吸附芯片的吸附吸嘴,旋转支架安装于底座上,吸附吸嘴可旋转地设置于旋转支架上;图像获取机构包括检测相机,检测相机安装于底座上,并位于吸附吸嘴的一侧;规整机构包括规整座和规整装置,规整座安装于底座上,并位于吸附吸嘴远离检测相机的一侧;规整装置包括两个夹持臂,两个夹持臂的一端活动安装于规整座上,另一端设有规整端部,两个规整端部相对设置;吸附吸嘴的吸附端位于两个规整端部之间。本发明中一个检测相机与旋转吸嘴机构配合检测芯片的四个侧面,规整机构保证芯片的拍摄角度。