发明公开
CN117538646A 测试装置及测试方法
审中-实审
- 专利标题: 测试装置及测试方法
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申请号: CN202311493170.3申请日: 2023-11-09
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公开(公告)号: CN117538646A公开(公告)日: 2024-02-09
- 发明人: 吴婷 , 成亮 , 蔡振东 , 刘爱青 , 王菲 , 刘玉升
- 申请人: 国核自仪系统工程有限公司
- 申请人地址: 上海市闵行区江川东路428号
- 专利权人: 国核自仪系统工程有限公司
- 当前专利权人: 国核自仪系统工程有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区江川东路428号
- 代理机构: 上海弼兴律师事务所
- 代理商 卜子雯; 高晓莉
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G01R1/04
摘要:
本发明公开了一种测试装置及测试方法,所述测试装置用于功能卡的检测,所述测试装置包括:底座模块,所述底座模块用于对接所述功能卡,所述底座模块配置有与所述功能卡上待检测引脚对应的探针;按压模块,所述按压模块包括按压部,所述按压部沿着所述功能卡与所述底座模块的插拔方向移动并与所述功能卡接触,以带动所述待检测引脚与所述探针连接。采用本方案,能够使得DCS模板供电具备可靠性,从而便于后续的功能性检测步骤;还能够提升检测的通用性。以及,使得功能卡能够自动与底座模块连接,实现快速将功能卡与底座卡进行插拔的自动化操作,提升检测的效率。