发明公开
- 专利标题: 一种用于半导体晶圆表面处理的垂直型熔炉
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申请号: CN202310221572.1申请日: 2023-03-09
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公开(公告)号: CN117553563A公开(公告)日: 2024-02-13
- 发明人: 李宰卿 , 成鲁荣 , 崔令铉 , 金振元 , 杨志勇
- 申请人: 扬州韩思半导体科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省扬州市高新技术开发区吉利路21号2幢
- 专利权人: 扬州韩思半导体科技有限公司
- 当前专利权人: 扬州韩思半导体科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省扬州市高新技术开发区吉利路21号2幢
- 代理机构: 盐城汇聪知识产权代理事务所
- 代理商 王金燃
- 主分类号: F27B1/12
- IPC分类号: F27B1/12 ; F27B1/28 ; F27B1/26 ; H01L21/67 ; C30B33/00
摘要:
本发明公开了一种用于半导体晶圆表面处理的垂直型熔炉,包括熔炉本体,所述熔炉本体包括熔炉外壳和工艺管道,所述工艺管道固定在熔炉外壳的内部,所述工艺管道的一侧固定连接有第一热电偶,所述工艺管道的另一侧固定连接有第二热电偶,所述工艺管道的内部开设有腔体,所述第一热电偶与第二热电偶分别设置有四个,本发明涉及半导体加工技术领域。该用于半导体晶圆表面处理的垂直型熔炉,通过将ProfileTC即第一热电偶安装在工艺管的外壁上进行永久固定,减少设备安装时间,节约设备制作成本,且由于可以通过单个热电偶测量晶圆的实时温度,因此通过晶圆温度为基准,第二热电偶按区域加热器功率来控制加热器温度,能更有效地达到目标温度。