Invention Publication
- Patent Title: 一种基于太赫兹波的绝缘油介质损耗因素测试方法及系统
-
Application No.: CN202311529260.3Application Date: 2023-11-16
-
Publication No.: CN117554322APublication Date: 2024-02-13
- Inventor: 杨丽君 , 何雨欣 , 成立 , 蒋韬 , 胡金磊 , 刘熊 , 熊浩 , 王谦 , 刘佳 , 杨财伟 , 李勇 , 蒋沁知 , 陈正宇
- Applicant: 重庆大学 , 国网重庆市电力公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司
- Applicant Address: 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
- Assignee: 重庆大学,国网重庆市电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- Current Assignee: 重庆大学,国网重庆市电力公司电力科学研究院,国家电网有限公司
- Current Assignee Address: 重庆市沙坪坝区沙坪坝正街174号
- Agency: 北京同恒源知识产权代理有限公司
- Agent 廖曦
- Main IPC: G01N21/3586
- IPC: G01N21/3586 ; G01N21/3577 ; G01R27/26 ; G01R31/12
Abstract:
本发明涉及一种基于太赫兹波的绝缘油介质损耗因素测试方法及系统，属于计算机领域。该方法包括以下步骤：S1：制作绝缘油劣化标样；S2：测量标样的介质损耗因素；S3：搭建太赫兹光谱仪绝缘油介质损耗因素测试系统；S4：测量标样的太赫兹光谱；S5：建立该物质太赫兹频谱特征与绝缘油介质损耗因素的定量曲线；S6：测试待测样品的太赫兹光谱并计算介质损耗因素。
Information query
IPC分类:
