发明公开
- 专利标题: 抗能量分析攻击能力的检测方法及系统、设备和存储介质
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申请号: CN202311514640.X申请日: 2023-11-14
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公开(公告)号: CN117560135A公开(公告)日: 2024-02-13
- 发明人: 成嵩 , 崔益军 , 高顺贤 , 仲俊杰 , 任娟 , 卢传超 , 卢健 , 王成华 , 刘伟强
- 申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 南京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,南京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京智芯微电子科技有限公司,南京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 孙璐璐
- 主分类号: H04L9/00
- IPC分类号: H04L9/00 ; H04L9/30
摘要:
本发明公开了一种抗能量分析攻击能力的检测方法,检测方法用于检测NTT多项式乘法器,NTT多项式乘法器包括解密模块,检测方法包括:对NTT多项式乘法器输入数据;采集实际能量迹;攻击NTT多项式乘法器解密过程,并根据实际能量迹得到目标私钥;根据目标私钥和实际私钥得到私钥正确率;根据私钥正确率和设定阈值的比较结果确定NTT多项式乘法器的抗能量分析攻击能力。本发明的检测方法通过对NTT多项式乘法器进行攻击并根据实际能量迹得到目标子私钥,并根据目标子私钥和实际子私钥得到私钥正确率,根据私钥正确率和设定阈值的比较结果确定NTT多项式乘法器的抗能量分析能力,为检测基于NTT多项式乘法器的密码设备的安全可靠性提供了评估手段。