Invention Publication
- Patent Title: 一种相控阵天线近场测试系统和方法
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Application No.: CN202311448996.8Application Date: 2023-11-02
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Publication No.: CN117590093APublication Date: 2024-02-23
- Inventor: 丰超 , 江利中 , 张静 , 张灿 , 李前 , 高林星
- Applicant: 上海无线电设备研究所
- Applicant Address: 上海市闵行区中春路1555号
- Assignee: 上海无线电设备研究所
- Current Assignee: 上海无线电设备研究所
- Current Assignee Address: 上海市闵行区中春路1555号
- Agency: 上海元好知识产权代理有限公司
- Agent 倪斌; 徐雯琼
- Main IPC: G01R29/10
- IPC: G01R29/10 ; G01S7/40

Abstract:
本发明涉及一种相控阵天线近场测试系统,包括:转台;相控阵天线系统,固定在转台上,包括波控机和相控阵天线;喇叭馈源,与失网连接,对准相控阵天线的中心位置设置;上位机,与所述波控机连接,用于控制相控阵天线的TR组件通道的导通与关断;发射脉冲产生单元和数据采集系统,发射脉冲产生单元用于输出脉冲信号,并分为两路分别输入数据采集系统和波控机,波控机将发射脉冲和相位码发送至TR组件,所述相控阵天线系统发射的电磁波被喇叭馈源接收,并通过失网输入至数据采集系统。本发明提出的相控阵天线近场测试系统安全性高,且发射端和接收端同步发射和采集,可提高采集的数据精度。
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