发明公开
- 专利标题： 辐射剂量检测装置和辐射剂量检测方法
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申请号： CN202311811466.5申请日： 2023-12-26
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公开(公告)号： CN117607934A公开(公告)日： 2024-02-27
- 发明人: 张文剑 , 李荐民 , 付赓 , 李树伟 , 翟兴亮 , 邹湘
- 申请人： 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 专利权人： 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人： 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址： 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- 代理机构： 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 张体南
- 主分类号： G01T1/02
- IPC分类号： G01T1/02
摘要：
本公开提供了一种辐射剂量检测装置和辐射剂量检测方法。该辐射剂量检测装置包括：电离室，限定出容纳空间，所述容纳空间中填充有气体，所述气体被配置成与进入所述容纳空间的射线发生反应产生电子；N个VDMOS器件，置于所述容纳空间内，N为大于或等于1的整数；其中，N个所述VDMOS器件中至少一个器件的源漏反向电流电压曲线响应于所述电子发生变化，所述射线的辐射剂量通过变化前后的所述源漏反向电流电压曲线得到。
