发明公开
- 专利标题: SAR失效检测方法、电子装置和可读存储介质
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申请号: CN202311624453.7申请日: 2023-11-28
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公开(公告)号: CN117631084A公开(公告)日: 2024-03-01
- 发明人: 请求不公布姓名 , 廖志军 , 王晨阳
- 申请人: 武汉星纪魅族科技有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市武汉经济技术开发区春晓路181号14层
- 专利权人: 武汉星纪魅族科技有限公司
- 当前专利权人: 武汉星纪魅族科技有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市武汉经济技术开发区春晓路181号14层
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 彭久云
- 主分类号: G01V13/00
- IPC分类号: G01V13/00 ; G01R27/26
摘要:
本公开提供了一种SAR失效检测方法、电子装置和可读存储介质。根据本公开实施例的SAR失效检测方法包括:检测对应于电子装置的第一天线通道的第一通道电容值;获取针对第一天线通道的初始电容值,该初始电容值为SAR未失效情况下的第一天线通道的电容值;以及根据第一通道电容值和初始电容值之间的偏差确定第一天线通道的SAR是否失效。利用根据本公开提供的SAR失效检测方法,能够检测电子装置中的SAR传感器是否处于有效状态,并且保证电子装置的电磁辐射保持在设定范围内。