发明授权
- 专利标题: 一种基于测试结果数据的测试指标优化方法
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申请号: CN202311654264.4申请日: 2023-12-05
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公开(公告)号: CN117637004B公开(公告)日: 2024-05-17
- 发明人: 周福池 , 谢兴 , 叶元彬 , 彭伟华 , 周旺英 , 张学义
- 申请人: 韶关朗科半导体有限公司
- 申请人地址: 广东省韶关市武江区盛强路28号1号厂房3、4、5楼
- 专利权人: 韶关朗科半导体有限公司
- 当前专利权人: 韶关朗科半导体有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省韶关市武江区盛强路28号1号厂房3、4、5楼
- 代理机构: 广东省中源正拓专利代理事务所
- 代理商 郭乐
- 主分类号: G11C29/50
- IPC分类号: G11C29/50 ; G06F11/00
摘要:
本发明公开了一种基于测试结果数据的测试指标优化方法,属于固态硬盘测试领域。方法包括步骤:准备待测试的SSD产品,设置第一测试参数集;将部分SSD产品设定为样本组,启动第一计时器;根据RDT测试策略和第一测试参数集对样本组进行RDT测试;识别异常SMART数据,将异常SMART数据对应的测试参数设定为敏感参数值;提高第一测试参数集中敏感参数值的选择概率;根据所述RDT测试结果拟合浴盆曲线;根据浴盆曲线的初始失效期设定老化测试时间,根据老化测试时间对所有SSD产品执行常温老化测试。本申请通过提高敏感参数值的选择概率,以实现快速识别样本异常,提高测试效率。
公开/授权文献
- CN117637004A 一种基于测试结果数据的测试指标优化方法 公开/授权日:2024-03-01