发明公开
CN117665020A 原位光场加载试验装置
审中-实审
- 专利标题: 原位光场加载试验装置
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申请号: CN202311641753.6申请日: 2023-12-04
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公开(公告)号: CN117665020A公开(公告)日: 2024-03-08
- 发明人: 蒋寒秋 , 郑海彪 , 柯于斌 , 吴煊 , 孙远 , 陶荆亮 , 吴国平 , 曾灿东 , 欧阳崯峰
- 申请人: 散裂中子源科学中心 , 中国科学院高能物理研究所 , 广东泰昌工业科技有限公司
- 申请人地址: 广东省东莞市大朗镇中子源路1号
- 专利权人: 散裂中子源科学中心,中国科学院高能物理研究所,广东泰昌工业科技有限公司
- 当前专利权人: 散裂中子源科学中心,中国科学院高能物理研究所,广东泰昌工业科技有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省东莞市大朗镇中子源路1号
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 刘南南
- 主分类号: G01N23/20
- IPC分类号: G01N23/20 ; G01N23/20008
摘要:
本发明属于中子散射试验技术领域,公开原位光场加载试验装置,原位光场加载试验装置包括样品架组件和光线投射机构,样品架组件安装有比色皿夹具和光门组件,比色皿夹具用于夹持比色皿,比色皿装有样品,光线投射机构包括升降调节组件、XY调节平台、安装架组件、试验光源及反射镜组件,反射镜组件转动安装于安装架组件,光门组件位于反射镜组件与比色皿夹具之间。进行试验时,光门组件暂时暴露比色皿的样品。反射镜组件能够相对比色皿转动调节,以保证试验光线能够对样品进行均匀的照射,使中子和试验光线在同一光路,以获取真实准确的试验结果,试验结束后,光门组件遮挡试验光线。