- 专利标题: 时间交织ADC采样时间适配的校准方法、系统、介质及校准器
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申请号: CN202311392789.5申请日: 2023-10-25
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公开(公告)号: CN117674845B公开(公告)日: 2024-09-06
- 发明人: 林水洋 , 钱松 , 李全栋
- 申请人: 隔空微电子(深圳)有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路与槟榔道交汇处西北深九科技创业园5号楼207D
- 专利权人: 隔空微电子(深圳)有限公司
- 当前专利权人: 隔空微电子(深圳)有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田区福保街道福保社区桃花路与槟榔道交汇处西北深九科技创业园5号楼207D
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 倪静
- 主分类号: H03M1/10
- IPC分类号: H03M1/10 ; H03M1/12
摘要:
本申请提供时间交织ADC采样时间适配的校准方法、系统、介质及校准器,所述方法包括:接收采样同一个输入信号的多路子通道的失配延时;其中,同一采样周期内的第一路子通道为不需要校准的参考通道,其余各路子通道的失配延时基于参考通道估计得到;接收由多路选择器依次发送而来的当前被选中的待校准子通道的采样信号;使用线性插值算法并基于待校准子通道所对应的失配延时,计算所述待校准子通道的采样信号的校准斜率;基于校准斜率及延时校准系数得到待校准子通道输出的校准后的采样信号。本申请不存在输入信号带宽较窄或受限于子通道的采样率问题,硬件实现简约,对于低频输入信号有优秀的干扰抑制效果,对于高频输入信号有不错的干扰抑制效果。
公开/授权文献
- CN117674845A 时间交织ADC采样时间适配的校准方法、系统、介质及校准器 公开/授权日:2024-03-08