Invention Grant
- Patent Title: 内存泄露检测方法及电子设备
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Application No.: CN202310734426.9Application Date: 2023-06-20
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Publication No.: CN117687820BPublication Date: 2024-10-15
- Inventor: 朱潇 , 赵俊民 , 陈文博 , 陈刘璨
- Applicant: 荣耀终端有限公司
- Applicant Address: 广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401
- Assignee: 荣耀终端有限公司
- Current Assignee: 荣耀终端有限公司
- Current Assignee Address: 广东省深圳市福田区香蜜湖街道东海社区红荔西路8089号深业中城6号楼A单元3401
- Agency: 广州三环专利商标代理有限公司
- Agent 熊永强
- Main IPC: G06F11/07
- IPC: G06F11/07
Abstract:
本申请提供了一种内存泄露检测方法及电子设备,该方法包括:电子设备中的DSP运行一个或多个进程,其中,一个或多个进程中包括第一进程。电子设备中的AP向DSP发送内存泄露检测指令。当DSP接收到内存泄露检测指令时,DSP获取到第一进程的内存占用信息。当DSP基于第一进程的内存占用信息确定第一进程发生内存泄露时,DSP向AP发送第一指示信息,或DSP执行第一操作。当AP接收到第一指示信息时,AP执行第一操作。其中,第一指示信息用于指示第一进程发生内存泄露,第一操作包括以下的一项或多项:重启第一进程、重启DSP、触发DSP从DSP中抓取第一进程的内存申请信息日志。
Public/Granted literature
- CN117687820A 内存泄露检测方法及电子设备 Public/Granted day:2024-03-12
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