Invention Publication
- Patent Title: 线上芯片验证方法、系统、电子设备及可读存储介质
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Application No.: CN202311498526.2Application Date: 2023-11-09
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Publication No.: CN117688900APublication Date: 2024-03-12
- Inventor: 杜普
- Applicant: 海宁奕斯伟集成电路设计有限公司 , 北京奕斯伟计算技术股份有限公司
- Applicant Address: 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座263室;
- Assignee: 海宁奕斯伟集成电路设计有限公司,北京奕斯伟计算技术股份有限公司
- Current Assignee: 海宁奕斯伟计算技术有限公司,北京奕斯伟计算技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 314000 浙江省嘉兴市海宁市海宁经济开发区双联路128号科创中心B座263室
- Agency: 北京成创同维知识产权代理有限公司
- Agent 蔡纯; 刘静
- Main IPC: G06F30/398
- IPC: G06F30/398 ; G06F30/31

Abstract:
本申请提供了一种线上芯片验证方法、系统、电子设备及可读存储介质,在进行线上芯片验证时,于web端输入验证参数,并通过智能分析验证参数,在输入的验证参数满足预设的运行条件的情况下利用确定的验证工具进行验证,以及在验证完成后于web端展示检查报告,由此,本申请能够在线实现参数输入、输入提交以及报告展示等功能,并自动合理的调度后台验证资源以进行自动验证,极大地提升了芯片的验证效率及研发效能,利于减少项目开发过程中由人工操作带来的错误。
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