发明公开
- 专利标题： ADC静态参数测试方法、装置、计算机设备及存储介质
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申请号： CN202311694687.9申请日： 2023-12-11
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公开(公告)号： CN117706326A公开(公告)日： 2024-03-15
- 发明人: 付江铎 , 许京涛 , 关兆亮 , 许航宇 , 程锦辉 , 尹毅博 , 黄学全 , 客金坤
- 申请人： 国网智能电网研究院有限公司 , 国家电网有限公司
- 申请人地址： 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号;
- 专利权人： 国网智能电网研究院有限公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人： 国网智能电网研究院有限公司,国家电网有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市昌平区未来科技城滨河大道18号;
- 代理机构： 北京三聚阳光知识产权代理有限公司
- 代理商 何浩云
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
摘要：
本发明涉及集成电路测试技术领域，公开了ADC静态参数测试方法、装置、计算机设备及存储介质，本发明将待测ADC分为高低两个虚拟子ADC，对其非线性分别进行求解，并组合在一起求出整体非线性，从而大大减少了测试所需的采样点数。同时还利用双路输入信号进行识别，能够容忍一定的信号源非线性。所提测试方法具有较高的计算效率，适用于片上测试。