发明公开
- 专利标题: 处于微负压状态的恒流荧光测量系统及测量方法
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申请号: CN202311425851.6申请日: 2023-10-31
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公开(公告)号: CN117723517A公开(公告)日: 2024-03-19
- 发明人: 董月红 , 彭志敏 , 周凯 , 庄柯 , 魏逸飞
- 申请人: 国家能源集团科学技术研究院有限公司 , 清华大学
- 申请人地址: 江苏省南京市栖霞区仙境路10号;
- 专利权人: 国家能源集团科学技术研究院有限公司,清华大学
- 当前专利权人: 国家能源集团科学技术研究院有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市栖霞区仙境路10号;
- 代理机构: 北京润平知识产权代理有限公司
- 代理商 郑海涛
- 主分类号: G01N21/64
- IPC分类号: G01N21/64 ; G01N21/01
摘要:
本发明提供一种处于微负压状态的恒流荧光测量系统及测量方法,属于气体测量技术领域。包括:第一气路转换机构,其进气口连接待测气体输送管道和惰性气源;干扰组分去除装置,其进气口连接第一气路转换机构的出气口;气体形态转换富集装置,其进气口连接第一气路转换机构的出气口;荧光测量装置,其进气口通过第二气路转换机构连接干扰组分去除装置和气体形态转换富集装置的出气口,用于对待测气体进行浓度测量;限流装置,其进气口连接第二气路转换机构和荧光测量装置的出气口,其出气口连接排气机构,与排气机构配合稳定荧光测量装置的进气流量,以及使荧光测量装置处于负压。本发明能使气体保持稳定,提高测量精度以及灵敏度,适用范围广。