发明公开
- 专利标题: 一种用于微尺度电特性分布检测的电学层析成像传感器
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申请号: CN202311771579.7申请日: 2023-12-21
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公开(公告)号: CN117723603A公开(公告)日: 2024-03-19
- 发明人: 孙江涛 , 廉依倪 , 李效霖 , 白旭 , 索鹏 , 徐立军
- 申请人: 北京航空航天大学
- 申请人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人: 北京航空航天大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区学院路37号
- 代理机构: 北京鑫瑞森知识产权代理有限公司
- 代理商 代芳
- 主分类号: G01N27/06
- IPC分类号: G01N27/06 ; G01N27/07
摘要:
本发明提供了一种用于微尺度电特性分布检测的电学层析成像传感器,包括:微流道载体PDMS芯片、玻璃基底、T形管及金属管,所述玻璃基底与所述微流道载体PDMS芯片键合连接,所述微流道载体PDMS芯片上设置有多个惯性聚焦微流道及液体电极腔室,且液体电极腔室的一端交汇至一点,液体电极腔室的另一端顶部设置有液体电极引出孔,液体电极引出孔上设置T形管,惯性聚焦微流道的一端与液体电极腔室的交汇点相连接,惯性聚焦微流道的另一端顶部设置开孔,开孔上设置金属管。本发明提供的用于微尺度电特性分布检测的电学层析成像传感器,能够解决微小尺度下EIT传感器实现困难的问题,实现微流控系统中微颗粒和离子浓度的测量。