发明公开
- 专利标题: 一种金属导体线材电阻率测试装置及方法
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申请号: CN202311776897.2申请日: 2023-12-22
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公开(公告)号: CN117761402A公开(公告)日: 2024-03-26
- 发明人: 李国兴 , 刘子扬 , 党朋 , 蔡西川 , 张永甲 , 李军 , 吴仲孝
- 申请人: 上海电缆研究所有限公司
- 申请人地址: 上海市杨浦区军工路1000号
- 专利权人: 上海电缆研究所有限公司
- 当前专利权人: 上海电缆研究所有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市杨浦区军工路1000号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 侯冻
- 主分类号: G01R27/08
- IPC分类号: G01R27/08 ; G01B11/08 ; G01R1/04 ; G01K13/00
摘要:
本发明涉及一种金属导体线材电阻率测试装置及方法,包括恒温箱、控温机构、测径机构、升降架机构、电桥和测试操控系统;恒温箱包括箱体、恒温介质和箱盖,箱体设有操作敞口,箱盖能够盖住操作敞口;控温机构用于控制恒温介质的温度;升降架机构设置箱体中,包括升降支撑板、升降组件和测量尺,电桥安装在升降支撑板上,金属导体线材安装在电桥中时沿着横向方向直线延伸,测量尺安装在升降支撑板上并沿横向方向延伸,升降组件驱动升降支撑板竖向升降运动;测径机构包括设置在激光测径仪和横向调整组件,激光测径仪与测试操控系统通讯相连;测试操控系统与电桥之间设有连接导线,测试操控系统能够向电桥提供测试电压电流,并收集测量数据。