Invention Publication

辐射检查系统
Abstract:
本公开涉及一种辐射检查系统,用于对被检对象(101)进行扫描检查,辐射检查系统包括:第一光源(1),包括沿高度方向(z)间隔设置的多个子光源(11),多个子光源(11)被配置为独立发出射线束;透射探测器组件(2),与第一光源(1)沿第一方向(x)相对间隔设置形成检查通道(3),检查通道(3)用于供被检对象(101)通过且沿第二方向(y)延伸,透射探测器组件(2)被配置为接收第一光源(1)的透射光束;和准直器(4),位于第一光源(1)和透射探测器组件(2)之间且靠近第一光源(1)所在侧,准直器(4)设有沿高度方向(z)设置的多个准直口(41),多个准直口(41)被配置为限制多个子光源(11)发出光束的形状。
Patent Agency Ranking
0/0