发明公开
CN117825309A 锂含量的测量方法
审中-实审
- 专利标题: 锂含量的测量方法
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申请号: CN202410030722.5申请日: 2024-01-09
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公开(公告)号: CN117825309A公开(公告)日: 2024-04-05
- 发明人: 陈瑞瑞 , 胡恒广 , 张广涛 , 刘泽文 , 岳志芳 , 刘文渊
- 申请人: 河北光兴半导体技术有限公司 , 北京盛达众安科技有限公司
- 申请人地址: 河北省石家庄市高新区中山东路931号;
- 专利权人: 河北光兴半导体技术有限公司,北京盛达众安科技有限公司
- 当前专利权人: 河北光兴半导体技术有限公司,北京盛达众安科技有限公司
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市高新区中山东路931号;
- 代理机构: 北京鼎佳达知识产权代理事务所
- 代理商 于海峰; 刘铁生
- 主分类号: G01N21/33
- IPC分类号: G01N21/33 ; G01N21/82
摘要:
本公开提供一种锂含量的测量方法,包括:S1对待测样品进行第一预处理,得到第一溶液;移取第一体积的第一溶液与高碘酸铁盐溶液混合,使移取的第一溶液中的锂离子完全反应生成黄色沉淀;S2对S1步骤中生成的黄色沉淀进行第二预处理,得到第二溶液,通过紫外分光光度法获得第二溶液中铁离子的质量;S3基于第二溶液的铁离子质量获得待测样品的锂含量。本申请的锂含量的测量方法采用紫外分光光度法,创新性地解决了锂离子在紫外可见光区域没有明显吸收峰无法直接测量的问题,突破了长期以往的技术壁垒。在测量高锂含量待测样品时,无需反复稀释,测量结果准确,适用于高含量锂的样品检测,对于玻璃生产过程中的锂含量控制具有重要意义。
IPC分类: