发明公开
- 专利标题: 用于标定扫描成像设备的标定方法和系统
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申请号: CN202311864101.9申请日: 2023-12-29
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公开(公告)号: CN117825418A公开(公告)日: 2024-04-05
- 发明人: 陈志强 , 沈乐 , 张丽 , 邢宇翔 , 赵振华 , 孙运达
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 张体南
- 主分类号: G01N23/04
- IPC分类号: G01N23/04
摘要:
提供一种用于标定扫描成像设备的标定方法,包括:在几何标定模体位于射线形成的扫描区域中的情况下,执行几何标定步骤,包括:通过探测器采集经过扫描区域的射线,获得探测器数据;利用探测器数据,对射线源参数和探测器参数进行标定,以获取优化的射线源参数和优化的探测器参数,并将优化的射线源参数和优化的探测器参数确定为几何标定参数;在能谱标定模体位于射线形成的扫描区域中的情况下,执行能谱标定步骤,包括:通过探测器采集经过扫描区域的射线,获取与能谱模体相关的实际投影数据;利用实际投影数据,根据几何关系和能谱标定模体的物理属性,对能谱参数进行标定,以获取优化的能谱参数,并将优化的能谱参数确定为能谱标定参数。