发明公开
- 专利标题: 电子产品老化测试系统及装置
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申请号: CN202410020315.6申请日: 2024-01-04
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公开(公告)号: CN117825855A公开(公告)日: 2024-04-05
- 发明人: 陈志杰 , 余祥军
- 申请人: 深圳市振邦智能科技股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市光明新区玉塘街道根玉路与南明路交汇处华宏信通工业园4栋1-6楼
- 专利权人: 深圳市振邦智能科技股份有限公司
- 当前专利权人: 深圳市振邦智能科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市光明新区玉塘街道根玉路与南明路交汇处华宏信通工业园4栋1-6楼
- 代理机构: 深圳市精英专利事务所
- 代理商 戴艳艳
- 主分类号: G01R31/00
- IPC分类号: G01R31/00 ; G01R22/06
摘要:
本发明公开了一种电子产品老化测试系统及装置。其中,该系统包括:电源,其用于给待测试电子产品进行供电;电量消耗模块,其用于消耗所述待测试电子产品的电量,以使所述待测试电子产品进入老化测试;电量计模块,其用于计量所述待测试电子产品进行老化测试所使用的电量信息;控制设备,其用于获取所述电量计模块计量的所述电量信息,并根据所述电量信息生成老化测试结果。本发明先通过电量计模块计量待测试电子产品进行老化测试所使用的电量信息,再通过控制设备根据电量信息生成测试结果,整个老化测试过程,需要人工参与,避免了漏测误测问题,提高了老化测试效率和测试准确度。