发明公开
- 专利标题: 基于散射中心模型的近场频谱特征获取方法及装置
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申请号: CN202410019730.X申请日: 2024-01-05
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公开(公告)号: CN117826094A公开(公告)日: 2024-04-05
- 发明人: 满良 , 邓浩川 , 朱晨曦
- 申请人: 北京环境特性研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区永定路50号
- 专利权人: 北京环境特性研究所
- 当前专利权人: 北京环境特性研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区永定路50号
- 代理机构: 北京格允知识产权代理有限公司
- 代理商 张莉瑜
- 主分类号: G01S7/40
- IPC分类号: G01S7/40 ; G01S7/41 ; G01R29/10 ; G01R23/02 ; G01R23/16
摘要:
本发明涉及目标特性研究技术领域,特别涉及一种基于散射中心模型的近场频谱特征获取方法及装置,其中方法包括:确定可探测时刻的天线参数、天线方向图、弹目相对速度和目标位姿;根据天线参数和目标位姿,确定可探测时刻天线照射到的目标区域;确定目标区域内的所有散射中心,并获取对应的散射中心数据;根据弹目相对速度、目标位姿以及对应的散射中心数据,分别计算目标区域内各散射中心的多普勒频率;根据天线参数,分别计算目标区域内各散射中心相对天线中心指向的偏角;分别根据天线方向图、散射中心强度及散射中心相对天线中心指向的偏角,计算目标区域内各散射中心的回波幅度。本发明能够快速计算出目标的近场频谱特征。