- 专利标题: 角度的测量方法、测量装置和X射线工业无损检测设备
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申请号: CN202410255784.6申请日: 2024-03-06
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公开(公告)号: CN117848288B公开(公告)日: 2024-06-04
- 发明人: 苏瑞朋
- 申请人: 苏州一目万相科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市太仓市经济技术开发区东亭北路111号9幢
- 专利权人: 苏州一目万相科技有限公司
- 当前专利权人: 苏州一目万相科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市太仓市经济技术开发区东亭北路111号9幢
- 代理机构: 北京友联知识产权代理有限公司
- 代理商 汪海屏; 尚志峰
- 主分类号: G01C9/00
- IPC分类号: G01C9/00 ; G01N23/046
摘要:
本发明涉及X射线工业无损检测设备技术领域,提出了一种角度的测量方法、测量装置和X射线工业无损检测设备,角度的测量方法用于测量面阵探测器的探测平面的中轴线与垂直方向之间的第一角度,面阵探测器用于X射线工业无损检测设备,X射线工业无损检测设备还包括射线源和放置台,射线源用于向探测平面发射X射线,测量方法包括:通过X射线工业无损检测设备获取预设物体的多个第一图像;其中,预设物体包括金属杆,金属杆的延伸方向与放置台的表面相垂直,多个第一图像对应的放置台的表面的旋转角度不相同,第一图像中包括金属杆的主体和背景画面;将多个第一图像进行合成处理,生成第二图像;根据第二图像,确定第一角度。
公开/授权文献
- CN117848288A 角度的测量方法、测量装置和X射线工业无损检测设备 公开/授权日:2024-04-09