Invention Publication
- Patent Title: 一种大尺寸红外性能测试用的标准黑体源
-
Application No.: CN202311722079.4Application Date: 2023-12-14
-
Publication No.: CN117848520APublication Date: 2024-04-09
- Inventor: 刘宝瑞 , 崔程光 , 宋春晖 , 曹清政 , 吕宠 , 李沛 , 肖越 , 李立广 , 边志峰 , 隋请 , 武文晋 , 张春瑞 , 李星 , 吴新建 , 刘剑锋 , 陈阳
- Applicant: 北京空间机电研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Assignee: 北京空间机电研究所
- Current Assignee: 北京空间机电研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区友谊路104号
- Agency: 中国航天科技专利中心
- Agent 余航
- Main IPC: G01J5/53
- IPC: G01J5/53

Abstract:
一种大尺寸红外性能测试用的标准黑体源,属于低温红外技术领域。所述标准黑体源包括:前支撑框架、保温层、辐射板、加热层、热平衡板、制冷器、辅助支撑、固定安装支架、隔热垫;固定安装支架支撑整个标准黑体源,隔热垫隔绝前支撑框架与固定支架之间的热传导,隔热垫与固定安装支架连接固定;前支撑框架是标准黑体源的主要支撑和防护部件,与隔热垫连接固定;辅助支撑两端与前支撑框架连接和固定安装支架紧密连接,防止辐射源重心倾斜;保温层与前支撑框架安装,通过外部液氮给制冷器降温,外部电源给加热层加热,实现真空环境中的快速稳定的温度控制。本发明在真空低温环境下实现红外辐射定标,满足大口径成像器性能指标测试。
Information query