发明授权
- 专利标题: 一种复合击穿路径击穿的真空度检测方法
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申请号: CN202410216316.8申请日: 2024-02-27
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公开(公告)号: CN117854981B公开(公告)日: 2024-09-24
- 发明人: 马慧 , 高玉龙 , 张一瑞 , 刘志远 , 耿英三 , 王建华
- 申请人: 西安交通大学
- 申请人地址: 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- 专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人: 西安交通大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号
- 代理机构: 西安智大知识产权代理事务所
- 代理商 何会侠
- 主分类号: H01H33/668
- IPC分类号: H01H33/668 ; G01L21/30
摘要:
本发明公开一种复合击穿路径击穿的真空度检测方法,真空开关当前受到电力系统青睐,但是在高电压等级真空开关的应用和推广过程中,面临真空灭弧室真空度在线检测的技术难题;为了解决这一难题,同时提高基于真空间隙的真空度检测精度,提出一种复合击穿路径击穿的真空度检测方法。本发明旨在基于不同真空度条件下不同电极间隙的击穿电压存在较大的差异这一特征,提出一种复合击穿路径击穿的真空度检测方法,通过多个不同电极间击穿电压的测量和判断,实现高电压等级真空灭弧室真空度检测精度的提高,完成高真空度环境与完全漏气后的绝缘气体环境下的击穿判定,推进高电压等级真空灭弧室真空度检测方法的发展。
公开/授权文献
- CN117854981A 一种复合击穿路径击穿的真空度检测方法 公开/授权日:2024-04-09