发明授权
- 专利标题: 一种基于双球管电离辐射测试系统
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申请号: CN202410098118.6申请日: 2024-01-24
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公开(公告)号: CN117908070B公开(公告)日: 2024-08-02
- 发明人: 郭彬 , 潘磊 , 李德红 , 任国月 , 马伯轩
- 申请人: 中国计量科学研究院 , 北京恒创嘉盛光电科技有限公司
- 申请人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号;
- 专利权人: 中国计量科学研究院,北京恒创嘉盛光电科技有限公司
- 当前专利权人: 中国计量科学研究院,北京恒创嘉盛光电科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市朝阳区北三环东路18号;
- 代理机构: 天津盈佳知识产权代理事务所
- 代理商 安娜
- 主分类号: G01T1/02
- IPC分类号: G01T1/02 ; G01T7/00 ; G01N23/04 ; G01N23/00
摘要:
本发明涉及电离辐射场所的辐射测试技术领域,具体涉及一种基于双球管电离辐射测试系统,包括架体;所述架体上端设有平台,所述平台的上端面平行设置球管一及球管二;所述平台下端面可拆卸安装有镜片调整装置;所述架体的侧端间隔设置有若干用于激光定位的发生器,当球管一对被测物进行照射时,的放射源球管二对被测物的末端进行照射,当被测物移动时,可检测被测物在被单一放射源照射和两个放射源照射时的辐射率,实现对多个放射源的电离辐射辐射剂量变化的检测。
公开/授权文献
- CN117908070A 一种基于双球管电离辐射测试系统 公开/授权日:2024-04-19