发明公开
CN117909148A 测试方法及被测试板
审中-实审
- 专利标题: 测试方法及被测试板
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申请号: CN202311704871.7申请日: 2023-12-12
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公开(公告)号: CN117909148A公开(公告)日: 2024-04-19
- 发明人: 邢幼圣
- 申请人: 超聚变数字技术有限公司
- 申请人地址: 河南省郑州市郑东新区龙子湖智慧岛正商博雅广场1号楼9层
- 专利权人: 超聚变数字技术有限公司
- 当前专利权人: 超聚变数字技术有限公司
- 当前专利权人地址: 河南省郑州市郑东新区龙子湖智慧岛正商博雅广场1号楼9层
- 代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理商 黄健; 臧建明
- 主分类号: G06F11/22
- IPC分类号: G06F11/22 ; G06F11/26 ; G06F13/42 ; G06F9/50
摘要:
本申请实施例提供一种测试方法及被测试板,该方法可以在被测试板与夹具电连接的情况下,确定被测试板的测试模式,被测试板上设置有中央处理器和多个高速串行计算机扩展总线标准PCIE接口,多个PCIE接口用于在对被测试板进行测试时分别与多个PCIE设备电连接;夹具用于固定第一电路板,第一电路板上插设有多个PCIE设备;若测试模式为功能测试模式,获取每个PCIE接口连接的PCIE设备对应的带宽,并根据每个PCIE设备对应的带宽,对被测试板进行功能测试。该方法在被测试板的测试模式为功能测试模式时,根据预先获取的配置信息为每个PCIE接口连接的PCIE设备分配对应的带宽,有利于减少BIOS分配带宽的时间,提高了被测试板的功能测试效率。