本发明涉及自动测试技术领域，更具体地，涉及一种光储一体式自动测试方法、系统及设备。该方案包括设置光储一体装置的每种控制模式的典型运行方式,逐一进行控制测试，并在进入稳态后和部分储能切除后，发出切换监视指令;等效在不同频率段对应的等效阻抗;获取所述不同频率段对应的等效阻抗后，重新建立不同频率下的仿真代替模型，并形成不同控制模式下的阻抗动态变化的等效光储一体模型;按照0.05pu为单位在不同的等效的功率波动下，对全部的控制模式下进行模拟仿真测试，并反馈测试中产生的异常情况。该方案通过主动储能0.05pu波动，结合适应不同系统的频率的阻抗，进行全面覆盖型补充测试，实现高效、全面和低损耗的性能测试。