Invention Publication
- Patent Title: 互感器校验仪智能调控方法、系统、电子设备及存储介质
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Application No.: CN202410354106.5Application Date: 2024-03-27
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Publication No.: CN117949886APublication Date: 2024-04-30
- Inventor: 程昱舒 , 韩霞 , 任宇路 , 张雪瑞 , 郭晓霞 , 白志霞 , 刘青 , 闫春蕊 , 吕相沅 , 陈安琪 , 刘佳易 , 肖春 , 王磊
- Applicant: 国网山西省电力公司营销服务中心 , 太原理工大学
- Applicant Address: 山西省太原市唐槐园区武洛街10号;
- Assignee: 国网山西省电力公司营销服务中心,太原理工大学
- Current Assignee: 国网山西省电力公司营销服务中心,太原理工大学
- Current Assignee Address: 山西省太原市唐槐园区武洛街10号;
- Agency: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所
- Agent 陈华红子
- Main IPC: G01R35/02
- IPC: G01R35/02

Abstract:
本发明涉及互感器校验的技术领域,特别是涉及一种互感器校验仪智能调控方法、系统、电子设备及存储介质,其能够更好地优化调度方案,提高互感器校验仪的利用效率,有助于实现更高效、准确、智能的互感器校验工作;所述方法包括:获取调控区域内的互感器设备信息以及设定的互感器设备最长校验时间间隔;互感器设备信息包括互感器设备的地理位置、互感器设备的校验日志以及互感器设备的规格;确定调控时间窗口,并根据互感器设备的校验日志和互感器设备最长校验时间间隔,提取在调控时间窗口内需要校验的互感器设备,生成待校验互感器设备集合;获取在调控时间窗口内无校验计划的互感器校验仪,生成待使用互感器校验仪集合。
Public/Granted literature
- CN117949886B 互感器校验仪智能调控方法、系统、电子设备及存储介质 Public/Granted day:2024-07-05
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