发明公开
摘要:
本发明涉及叶尖间隙测量校准技术领域,提供了一种叶尖间隙测量校准方法,包括如下步骤:将电容式传感器的探头与磁致伸缩位移机构的输出端连接;令电容式传感器的探头的端面与叶尖之间的极板间距离为极板间距离初始设定值;将高频载波输入电容式传感器的探头,对高频载波中存储的信息进行解调,获取电压测量值;控制磁致伸缩位移机构的磁场强度发生变化,使磁致伸缩位移机构的输出端伸缩并带动电容式传感器的探头移动,以定量改变极板间距离的大小,通过磁致伸缩位移机构实现电容式传感器探头的微米级位移;重新对高频载波中存储的信息进行解调,得到与改变后的电压测量值;建立极板间距离与电压测量值之间的映射关系;有利于提高测量校准准确性。