发明公开
- 专利标题: 一种多总线综合化测试装置及方法
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申请号: CN202410210282.1申请日: 2024-02-26
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公开(公告)号: CN117992293A公开(公告)日: 2024-05-07
- 发明人: 王柏翔 , 刘胜杰 , 郑云龙
- 申请人: 北京中航通用科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区丰贤中路7号北科产业园4号楼5层
- 专利权人: 北京中航通用科技有限公司
- 当前专利权人: 北京中航通用科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区丰贤中路7号北科产业园4号楼5层
- 主分类号: G06F11/22
- IPC分类号: G06F11/22 ; G06F11/26 ; G06F11/273
摘要:
本发明提供一种多总线综合化测试装置、方法、计算机设备、计算机可读存储介质及程序,其中,测试装置包括:PCIE驱动模块,用于识别和驱动PCIE设备;底层总线API模块,用于通过所述PCIE驱动模块获得板卡信息和数据,并对数据进行处理;总线管理模块,用于集成底层总线API,将底层总线API进行集中管理;总线仿真测试模块,用于构造出各个测试用例的仿真测试场景,采集测试结果,生成测试报告。本发明能够支持多总线板卡同时工作,通过配置总线参数、顺序构造出各个测试用例的实验场景,能够迅速的测试单个或多个不同类型总线而不需要更改任何硬件结构、软件结构。
公开/授权文献
- CN117992293B 一种多总线综合化测试装置及方法 公开/授权日:2024-09-17