Invention Publication
- Patent Title: 存储器自测试静态分组方法及装置
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Application No.: CN202410404409.3Application Date: 2024-04-07
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Publication No.: CN117995262APublication Date: 2024-05-07
- Inventor: 张靖卓 , 叶靖
- Applicant: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
- Applicant Address: 北京市海淀区中关村东路18号1幢9层B-1003
- Assignee: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
- Current Assignee: 中科鉴芯(北京)科技有限责任公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区中关村东路18号1幢9层B-1003
- Agency: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
- Agent 程华
- Main IPC: G11C29/56
- IPC: G11C29/56
Abstract:
本申请提供一种存储器自测试静态分组方法及装置，该方法包括：当接收到存储器静态分组指令时，通过预定的存储器测试成本算法确定各存储器的测试成本；按照测试成本从大到小的顺序，对各存储器进行排序，得到存储器序列；按照预定的分组方法，依次将序列中相邻的多个存储器分为同组。本申请通过分组后，可以对存储器进行按组测试，对于不同测试成本的存储器组可以相应地规划测试次数，从而可以提高存储器的测试效率，降低测试总成本。
Public/Granted literature
- CN117995262B 存储器自测试静态分组方法及装置 Public/Granted day:2024-07-02
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