本发明公开了一种小容量高频电压源测试平台温度及损耗测量方法，用于分析小容量高频电压源对待测样品的损耗影响，利用分布式光纤温度传感器测量待测样品的温度，并利用并联谐振法降低对电源容量需求，提供大电流通过待测样品，实现更大样品损耗的测量，其中将光纤穿入待测样品，待测样品温度升高时，产生的后向散射光参数发送给计算机，得到待测样品温度。确定待测样品损耗时，建立并联谐振电路，取得并联谐振电流，计算待测样品损耗。本发明的优点是，让小容量高频电压源满足试品的大电流的需求，可以满足大容量电容的损耗测试要求，并在确定待测样品参数、待测样品温度和待测样品损耗的对应关系后，基于待测样品温度即可确定待测样品损耗。