发明公开
- 专利标题: 绝缘壁厚测试装置及其测试方法
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申请号: CN202410384077.7申请日: 2024-04-01
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公开(公告)号: CN118031780A公开(公告)日: 2024-05-14
- 发明人: 郜一凡
- 申请人: 上海维科精密模塑股份有限公司
- 申请人地址: 上海市闵行区北横沙河路598号
- 专利权人: 上海维科精密模塑股份有限公司
- 当前专利权人: 上海维科精密模塑股份有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区北横沙河路598号
- 代理机构: 上海领洋专利代理事务所
- 代理商 罗晓鹏
- 主分类号: G01B7/06
- IPC分类号: G01B7/06 ; G01R31/52 ; G01R19/00 ; G01R1/04 ; G01R1/02 ; G01R31/12
摘要:
本公开实施例中提供绝缘壁厚测试装置及其测试方法,装置包括:电压源,包括:第一极性端以及耦接到所述待测绝缘层表面的第二极性端;所述电压源在第一极性端和第二极性端之间形成可调的输出电压;测试模块,分别耦接所述第一极性端和所述导电体外露于所述待测绝缘层的部分,以在所述绝缘层漏电时形成所述第一极性端和第二极性端之间的回路;所述测试模块用于测量在至少一种输出电压值下的所述回路中漏电电流的电流值,以根据所述电流值满足或不满足预设漏电条件以得到所述待测绝缘层的最小绝缘壁合格或不合格的结果。由此,在不必通过破坏性方法来测试绝缘层的绝缘性能是否合格,方便高效且成本低。