发明公开
- 专利标题: 一种在线近红外薄膜厚度测量方法以及测量仪
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申请号: CN202410245615.4申请日: 2024-03-04
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公开(公告)号: CN118031826A公开(公告)日: 2024-05-14
- 发明人: 刘鸿飞 , 黄晓晓 , 杨乐
- 申请人: 奥谱天成(厦门)光电有限公司
- 申请人地址: 福建省厦门市集美区软件园三期F区02栋5层
- 专利权人: 奥谱天成(厦门)光电有限公司
- 当前专利权人: 奥谱天成(厦门)光电有限公司
- 当前专利权人地址: 福建省厦门市集美区软件园三期F区02栋5层
- 代理机构: 厦门荔信律和知识产权代理有限公司
- 代理商 郑耀敏
- 主分类号: G01B11/06
- IPC分类号: G01B11/06
摘要:
本发明公开一种在线近红外薄膜厚度测量方法以及测量仪,其测量方法包括:将近红外光呈一定角度照射到被测薄膜上,获取被测薄膜产生的漫反射光光谱;基于所述漫反射光光谱,计算不同波段光谱的反射吸光度值;建立不同波段光谱的反射吸光度值和薄膜厚度的关系,从而测量薄膜厚度。本发明通过呈角度入射降低镜面反射光的接收,同时保证整体接收光强度,有效提高整体信号信噪比,本发明的偏斜角度测量方案的误差明显小于现有技术的垂直测量误差,具有很好的实用性。