本发明公开了一种基于超级电容储能的开关元件触点测试方法及系统，涉及触点测试技术领域，包括利用超级电容存储测试所需能量，布置传感器收集开关元件触点数据；构建自适应测试模型对收集到的触点数据进行测试参数调整；进行多频率电磁测试，选择最优测试频率，评估开关元件触点性能。本发明综合多因素分析，提供全面的性能评估。提供定量的方式评估触点性能，有助于客观地判断元件的状况。确定最佳测试频率，优化测试流程，提高效率。降低突发性维护的需求。提高系统的整体可靠性。延长触点的使用寿命。