本发明涉及半导体器件测试领域，公开了一种老化测试电路及老化测试方法；老化测试电路包括激励源、电流检测电路及过流保护电路；激励源与被测器件连接，激励源用于激励被测器件使被测器件产生漏电流；电流检测电路与被测器件连接，用于接收漏电流并输出检测电压；过流保护电路与所述电流检测电路连接，用于控制被测器件漏电流的输出，保护被测器件不会因漏电流过大被破坏。本发明提供了一种改进后的老化测试电路，在进行老化测试同时有效控制漏电流，避免被测器件被破坏。