- 专利标题： 一种车规芯片中存储失效检测与修复方法及装置
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申请号： CN202410496165.6申请日： 2024-04-24
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公开(公告)号： CN118093293B公开(公告)日： 2024-07-02
- 发明人: 周建 , 王超凡 , 耿晓祥 , 王超
- 申请人： 江苏云途半导体有限公司
- 申请人地址： 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A10幢8层808
- 专利权人： 江苏云途半导体有限公司
- 当前专利权人： 江苏云途半导体有限公司
- 当前专利权人地址： 江苏省无锡市滨湖区建筑西路777号A10幢8层808
- 代理机构： 北京天盾知识产权代理有限公司
- 代理商 张永佳
- 主分类号： G06F11/22
- IPC分类号： G06F11/22 ; G06F11/07 ; G06F11/30
摘要：
本发明涉及一种车规芯片中存储失效检测与修复方法及装置，所述装置包括：所述装置和车规芯片存储总线相连以对车规芯片上设置的各类型存储单元进行监测；所述装置包括：片上存储总线监测模块、片上存储访问模块、片上存储冗余块替换控制模块、MFMU中断和复位模块；本发明采用热替换进行检测和修复方式，可以在操作系统运行时动态监测片上存储是否有潜在或永久失效风险，不需要停机，不会增加系统负担。
公开/授权文献
- CN118093293A 一种车规芯片中存储失效检测与修复方法及装置 公开/授权日：2024-05-28
