- 专利标题： 高-低频特征增强的超分辨率图像质量评价方法及系统
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申请号： CN202410503058.1申请日： 2024-04-25
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公开(公告)号： CN118096750B公开(公告)日： 2024-07-09
- 发明人: 魏天高 , 魏一攀 , 杨光义 , 贺威 , 丁星宇
- 申请人： 武汉大学
- 申请人地址： 湖北省武汉市武昌区八一路299号
- 专利权人： 武汉大学
- 当前专利权人： 武汉大学
- 当前专利权人地址： 湖北省武汉市武昌区八一路299号
- 代理机构： 武汉科皓知识产权代理事务所
- 代理商 王琪
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G06T3/4076 ; G06T5/50 ; G06T5/40 ; G06V10/56 ; G06V10/44 ; G06V10/82 ; G06V10/80 ; G06T5/60
摘要：
本发明提出了高‑低频特征增强的超分辨率图像质量评价方法及系统，该方法充分挖掘了超分辨率图像的高频特征与低频特征，同时引入了颜色矩与局部二值模式（Local Binary Pattern，LBP）特征辅助卷积神经网络，对特征进行补充并增强算法的可解释性。最后根据超分辨率图像的特性，设计了双分支加权打分的回归策略进一步增强算法性能。本发明通过在多个数据库上进行测试，结果表明，本发明整体性能优异。
公开/授权文献
- CN118096750A 高-低频特征增强的超分辨率图像质量评价方法及系统 公开/授权日：2024-05-28
