Invention Publication
- Patent Title: 电子直线加速器和辐射检查系统
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Application No.: CN202311713546.7Application Date: 2023-12-13
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Publication No.: CN118102570APublication Date: 2024-05-28
- Inventor: 邹伟 , 朱国平 , 张一鸣 , 阮明 , 邓艳丽 , 刘耀红 , 印炜
- Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
- Applicant Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- Assignee: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- Current Assignee: 同方威视技术股份有限公司,清华大学
- Current Assignee Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 鄢功军
- Priority: 202211742642X 20221230 CN 2022117422486 20221230 CN 2022117426330 20221230 CN 2022117422734 20221230 CN
- Main IPC: H05H9/00
- IPC: H05H9/00 ; H05H7/22 ; H05H6/00

Abstract:
提供一种电子直线加速器,所述电子直线加速器包括反射式加速器,所述反射式加速器包括靶,所述反射式加速器被构造为:响应于电子束轰击所述靶,发出X射线束,在所述反射式加速器中,所述电子束沿第一方向入射到所述靶上,所述X射线束沿第二方向自所述靶发出,所述第一方向和所述第二方向均位于所述靶的同一侧,所述第一方向和所述第二方向之间存在第一设定夹角,所述第一设定夹角在20°~160°之间。还提供一种基于上述电子直线加速器的辐射检查系统。
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