Invention Grant
- Patent Title: 一种提升测力台有效响应带宽的方法
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Application No.: CN202410562158.1Application Date: 2024-05-08
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Publication No.: CN118130028BPublication Date: 2024-08-16
- Inventor: 崔凯 , 王嘉登 , 高雄 , 谢友金 , 刘朝晖 , 王一凡
- Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Applicant Address: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- Assignee: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Current Assignee: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- Current Assignee Address: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- Agency: 西安智邦专利商标代理有限公司
- Agent 王少文
- Main IPC: G01M7/06
- IPC: G01M7/06 ; G01L5/00 ; G01M7/02 ; G06F17/15 ; G06F17/18
Abstract:
本发明提供了一种提升测力台有效响应带宽的方法,用于针对测力台安装被测产品后,其附加质量结构刚度和负载质量都会导致整个系统的响应带宽降低,进而使得测力台在精密光电载荷的微振动敏感频段内测试结果严重失真的技术问题。本发明提升测力台有效响应带宽的方法为:通过动态响应测试,获得测力台带载时各方向的频率响应函数;通过测力台带载时各方向的频率响应函数计算测力台在各方向的响应归一化调制函数;再通过测力台在各方向的响应归一化调制函数对测力台带载时在第一个分界点和第二个分界点之间出现的非线性失真进行归一化处理,不仅有效提升了测力台的有效响应带宽,并且保证了测力台整体的响应准确性。
Public/Granted literature
- CN118130028A 一种提升测力台有效响应带宽的方法 Public/Granted day:2024-06-04
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