本发明公开了一种MicroLED柔性显示屏制备监测方法，涉及显示屏制备技术领域；本发明通过对MicroLED阵列在通电检查测试时间段内的的电压估值、差异估值、预期漏电电流以及极端漏电电流进行综合分析得到修复评估指数，为MicroLED阵列的修复和优化提供了一个综合的评估指标，进一步计算修复差值并将其与设定的差值取值范围匹配，可以快速确定每个MicroLED阵列的修复等级，从而将其送往最合适的修复车间，提高了制备得到效率和智能化程度。