本申请提供了一种IGBT模块状态的检测方法、装置、存储介质和处理器。该方法包括：获取待测变化率，待测变化率为待测IGBT模块的饱和压降随待测IGBT模块的集电极电流变化的速率；在待测变化率满足第一预定条件的情况下，确定待测IGBT模块处于失效状态，在待测变化率不满足第一预定条件且满足第二预定条件的情况下，确定待测IGBT模块处于亚健康状态，在待测变化率不满足第一预定条件且不满足第二预定条件的情况下，确定待测IGBT模块处于健康状态。该方法解决了现有技术中没有考虑到饱和电压不仅受键合线脱落的影响，也会受集电极电流的影响，导致IGBT模块状态检测准确度较低的问题。