发明公开
- 专利标题: 一种基于正交回转轴系的凸面光栅机械刻划系统及方法
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申请号: CN202410441413.7申请日: 2024-04-12
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公开(公告)号: CN118244402A公开(公告)日: 2024-06-25
- 发明人: 于硕 , 于宏柱 , 姚雪峰 , 李文昊 , 吉日嘎兰图 , 刘兆武 , 张博 , 王锐博 , 梁烘智 , 李泽霖
- 申请人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 申请人地址: 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 专利权人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
- 当前专利权人地址: 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
- 代理机构: 长春中科长光知识产权代理事务所
- 代理商 孙艳辉
- 主分类号: G02B5/18
- IPC分类号: G02B5/18
摘要:
本发明涉及机械光栅刻划技术领域,具体涉及一种基于正交回转轴系的凸面光栅机械刻划系统及方法,刻划系统包括刻划轨迹规划机构和刻划运动执行机构,刻划轨迹规划机构包括分度运动机构、刻划运动机构和刻划承载台,刻划运动机构与分度运动机构共同组成正交回转轴系,刻划承载台上设有校正调节机构,光栅基底位于校正调节机构上,刻划运动执行机构包括刀架承载台和对刀位移台,刻划时,刻划刀具对光栅基底进行单向挤压刻划。刻划方法包括:S1、进行光栅基底刻划前的装调准备工作;S2、在光栅基底上进行机械刻划。本发明可实现大口径、小闪耀角、高槽形精度的凸面光栅机械刻划。