发明公开
- 专利标题: 一种基于示踪气体浓度衰减的主控室内漏量测量方法
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申请号: CN202410173301.8申请日: 2024-02-07
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公开(公告)号: CN118275049A公开(公告)日: 2024-07-02
- 发明人: 王稹 , 张渊 , 吴涛 , 梁飞 , 张昭辰 , 张雪平 , 张崇文 , 李世军 , 沈大鹏 , 邱继林
- 申请人: 中国辐射防护研究院
- 申请人地址: 山西省太原市小店区学府街102号
- 专利权人: 中国辐射防护研究院
- 当前专利权人: 中国辐射防护研究院
- 当前专利权人地址: 山西省太原市小店区学府街102号
- 代理机构: 北京天悦专利代理事务所
- 代理商 田明; 任晓航
- 主分类号: G01M3/22
- IPC分类号: G01M3/22 ; G01N30/02 ; G01N30/70 ; G01N1/24
摘要:
本发明公开了一种基于示踪气体浓度衰减的主控室内漏量测量方法,涉及核安全评价技术领域,该方法基于一种主控室内漏量测量系统,该系统包括装有示踪气体的示踪气体瓶,示踪气体瓶连接待测主控室,多点取样装置包括多个取样点,多个取样点分布在主控室内不同位置;多点取样装置通过气体采样泵连接气相色谱仪。该方法包括以下步骤:S1、向待测主控室内注入一定量示踪气体;S2、在一定时间间隔内对待测主控室内进行多点多次取样,使用气相色谱仪测量主控室内各点处的示踪气体浓度;S3、采用示踪气体浓度衰减法计算得到主控室无过滤空气内漏量。本发明提供的方法能够准确、高效地测量主控室无过滤空气进入的内漏量,从而对主控室的可居留性进行评价。