发明公开
- 专利标题: 一种多测量模式侧向测井曲线重构方法及装置
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申请号: CN202410438279.5申请日: 2024-04-12
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公开(公告)号: CN118295035A公开(公告)日: 2024-07-05
- 发明人: 陈力 , 邱海涛 , 柳杰 , 金子杨 , 胡敏 , 诸梦青 , 林哲锐 , 张勤 , 金菊 , 高鹏宇 , 李强 , 董记
- 申请人: 杭州丰禾测控技术有限公司 , 杭州丰禾石油科技有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市余杭区仁和街道临港路1-3号3号厂房;
- 专利权人: 杭州丰禾测控技术有限公司,杭州丰禾石油科技有限公司
- 当前专利权人: 杭州丰禾测控技术有限公司,杭州丰禾石油科技有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市余杭区仁和街道临港路1-3号3号厂房;
- 代理机构: 安徽潍达知识产权代理事务所
- 代理商 张少康
- 主分类号: G01V3/20
- IPC分类号: G01V3/20 ; G01V3/38 ; E21B49/00
摘要:
本发明公开了一种多测量模式侧向测井曲线重构方法及装置,装置是由上下对称的9个金属电极组成,包括主电极A0,内外监督电极M1、M1’、M2和M2’,深测量模式时内外屏蔽电极A1、A1’、A2和A2’,浅测量模式时,内屏蔽电极A1、A1’,回路电极A2和A2’,深测量工作时,主电极A0、内外屏蔽电极A1、A1’、A2和A2’发射电流,回流到仪器两侧较远处。该多测量模式侧向测井曲线重构方法及装置,在不改变现有深浅测量模式的双侧向测井仪器硬件电路和机械结构的基础上,仅通过仪器在井下采集到的深浅测量电阻率曲线数据,采用曲线重构算法,重构浅测量电阻率曲线,获得反映地层真实电阻率信息的重构浅电阻率曲线,提升了深浅电阻率曲线合格率,为储层的有效评价提供了更为可靠的深浅电阻率曲线数据。