发明公开
- 专利标题: 一种精准控制的纳米颗粒分离沉积方法
-
申请号: CN202410434607.4申请日: 2024-04-11
-
公开(公告)号: CN118329557A公开(公告)日: 2024-07-12
- 发明人: 朱家庆 , 施玉书 , 史舟淼 , 张树
- 申请人: 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
- 申请人地址: 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区光侨路高科创新中心B栋4楼
- 专利权人: 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
- 当前专利权人: 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市光明区玉塘街道田寮社区光侨路高科创新中心B栋4楼
- 代理机构: 深圳市精英创新知识产权代理有限公司
- 代理商 卢梓峰
- 主分类号: G01N1/28
- IPC分类号: G01N1/28 ; B82Y40/00 ; B82Y30/00 ; B82Y15/00
摘要:
本发明公开了一种精准控制的纳米颗粒分离沉积方法,涉及颗粒分离技术领域。分离沉积方法包括以下步骤:选取已知颗粒数量浓度的纳米颗粒溶液,对纳米颗粒溶液进行预沉积,生成单分散液滴;分析多个生成的单分散液滴体积,计算体积平均值#imgabs0#计算单分散液滴内包含纳米颗粒数量的期望值;稀释纳米颗粒溶液,调整颗粒浓度直至单分散液滴内包含颗粒数量的期望值#imgabs1#为0.9‑1;将上述调整好颗粒浓度的纳米颗粒溶液生成单分散液滴分别沉积在基底的不同位置;待基底上单分散液滴中溶剂完全蒸发后,实现纳米颗粒的分离沉积。该方法可以用于对纳米颗粒材料进行显微镜观察之前的样品处理,有效避免材料团聚,确保直接观察到材料本身形貌。